El Sistema Interamericano de Metrología (SIM) fue creado para promover la cooperación internacional e interamericana de metrología. En la reunión semestral de esta entidad realizada en Chile, el experto estadounidense y actual presidente, Willie E. May,
23 de Agosto de 2010.- En un
encuentro que se realizó en Chile, los días 16, 17 y 18 de agosto,
Gabriela Massiff, directora del Centro de Metrología Química de
Fundación Chile, asumió la presidencia del Grupo de Química del
Sistema Interamericano de Metrología, en reemplazo del
estadounidense Willie E. May, actual director de Metrología Química
del NIST (National
Institute of Standards and Technology).
El
objetivo de la reunión -a la que asistieron Estados Unidos,
Canadá, México, Costa Rica, Panamá, Brasil, Argentina, Perú,
Ecuador, Trinidad y Tobago, Jamaica, Paraguay, Uruguay y Chile,
además de un invitado especial, Alemania fue analizar la metrología
química de cada país miembro y ver los aportes que pueden hacer
cada uno para ayudar a los países que están menos desarrollados.
"Se
discutió el grado de desarrollo de la metrología química en cada
país y cómo los países con más desarrollo pueden potenciar a los
menos desarrollado en esta área, que afecta la economía de cada
país", señaló Gabriela Massiff.
El
Sistema Interamericano de Metrología que nació de un acuerdo entre
los países integrantes de la OEA tiene como objetivo apoyar una
infraestructura de medición integrada en América, que garantice la
equidad en el mercado, mejore la calidad de vida y facilite el
comercio internacional.
En el
encuentro, el experto estadounidense William E. May se refirió a su
relación con otras organizaciones regionales de metrología y con
instituciones internacionales. Además, algunos de los países
miembros del SIM -Chile, Brasil y México analizaron las
diferentes formas de implementar institutos de metrología química
de acuerdo a su experiencia.
Finalmente,
el día miércoles 18 de agosto, se realizaron en el Hotel Kennedy
dos seminarios: "Validación
de Métodos", dictado por el
Centro de Metrología Química de Fundación Chile, y "Calibration
and Measurement Capability Claims", por
parte de Reenie Parris, del
NIST.
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